SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀(yi)器(qi)由(you)(you)主機、測(ce)試探(tan)頭(tou)（可選(xuan)配測(ce)試臺）等(deng)部(bu)分組(zu)成(cheng)(cheng)，測(ce)試結果(guo)由(you)(you)數(shu)(shu)字(zi)表頭(tou)直接顯(xian)示(shi)。主機主要由(you)(you)數(shu)(shu)控恒流源，高分辨(bian)率(lv)(lv)ADC、嵌入式(shi)單(dan)片(pian)機系統(tong)組(zu)成(cheng)(cheng)，自(zi)動轉換量程。測(ce)試探(tan)頭(tou)高分子(zi)材料和高耐磨碳化(hua)鎢探(tan)針制成(cheng)(cheng)，故定位(wei)準確(que)、游移(yi)率(lv)(lv)小、壽命(ming)長。儀(yi)器(qi)具有測(ce)量精度(du)高、靈(ling)敏度(du)高、穩定性好、智能(neng)化(hua)程度(du)高、測(ce)量簡便、結構緊(jin)湊、使用方(fang)便等(deng)特點(自(zi)動調零)。可鑒別半導體PN類別。