
HI98703高精度濁度分析測定儀HI98703的詳細資料:
高精度濁度分析測定儀HI98703高精度濁度分析測定儀HI98703
HI98703 高精度濁度分析測定儀
HI98703高精度濁度分析測定儀,光學系統具有自動調整功能,無需頻繁校準。您可以根據測量樣品特性和精度要求,選擇常規測量,連續測量或平均測量模式。濁度測量范圍為0.00 to 1000NTU,儀器標配校準組,您可以隨時進行各個測量參數的快捷校準。HI98703 濁度儀具有GLP良好實驗室管理功能,您可以查閱末次校準的各種相關信息:校準點,校準時間等。用戶友好界面設計,顯示提示信息,為您提供逐步操作指南。HI98703 濁度儀具有優良存儲功能,200個內置數據存儲空間,并可以對存儲數據隨時進行調閱。同時,如果您選購數據分析軟件和數據線,還可以將存儲數據通過RS232或USB數據接口傳輸到PC,進行進一步數據分析。
高精度濁度分析測定儀
? 鎢燈光源,符合EPA濁度測量標準
? 在低濁度測量領域具有精準性
? Fast Tracker TM電子標簽識別系統
? 2,3或4點濁度校準
? 200個存儲數據,并可隨時調閱
? USB或RS232數據接口
? GLP良好實驗室管理功能
? 人性化用戶友好界面,背景燈顯示屏
? 自動關機(ji)節電(dian)模式
Fast Tracker TM(T.I.S.)電子標簽識別系統
HANNA 系統是數據管理簡捷化和系統化的全新變革。電子標簽便于安裝和操作,僅僅需要將iButton標簽安裝在您要測量的樣品旁即可,使數據存儲管理性能更加便捷,系統化。在存儲數據時,將儀器標簽識別接口對準電子標簽,即可識別標簽ID和時間等信息。如果您選購了HI92000數據傳輸軟件和數據線,可將 Fast Tracker TM(T.I.S.)所存儲的數據通過數據線傳輸到電腦中,進行進一步的分析處理等操作。
HI98703 濁度儀 技術參數
型號HI 98703
濁度量程0.00 to 9.99 NTU;10.0 to 99.9 NTU; 100 to 1000 NTU
精度讀數的±2% +0.02 NTU
重現性讀數的±1% 或0.02 NTU,,取較大者
測量模式普通測量,連續測量,平均測量
光學系統鎢燈光源,硅光電池
校準方式<0.1,15,100,750 NTU,2-4點自動校準
測量標準USEPA 180.1 和 US standard Method 2130B
數據存儲200組測量數據,USB和RS232數據接口與電腦連接(需選購數據線及軟件)
供電方式4 x 1.5V AA電池或12Vdc電源適配器
使用環境0 to 50°C (32 to 122°F);RH max 95%無冷凝
尺寸重量224 x 87 x 77 mm;512 g
HI98703 濁度儀 價格和配置
HI98703濁(zhuo)度測定(USEPA方(fang)法180.1和2130B標(biao)準方(fang)法),鎢燈光源、USB、RS232數(shu)據接(jie)口、200組數(shu)據存儲、0.00 to 1000 NTU、HI98703-11濁(zhuo)度標(biao)準校正組、HI93703-58比色(se)皿(min)潤滑(hua)劑、HI731333N玻璃(li)比色(se)皿(min)×3個、HI731318清洗布(bu)×2塊(kuai) ’
高精密低濁度儀 精度濁度儀 型號:JJURB-3B

用進口高性能、長壽命、高亮度光源
配以高穩定性光學系統
儀器穩定性、重復性好,精度高
性能參數:
★ 測量范圍: 0~200NTU
★ 精確度:≤± 2 % (滿量程)
★ 重現性:≤ ± 2 % (滿量程)
★ zui小分辨率:0.01 NTU
★ 每小時漂移:< 0.1 NTU
★ 外形尺寸:266×200×130mm
★ 重量:4kg
★ 儀器在開機通電半小時后可在下列環境下連續運行:
⑴ 環境溫度: 5~40℃
⑵ 相對濕度: ≤70%
⑶ 供電電源: AC(220±10%)V; 50Hz
⑷ 避免強光直接照射,無顯著的振動及強電磁干擾
產品特點:
1、利用進口高性能、長壽命(10萬小時)、高亮度光源,配以窄帶濾光系統,光學穩定性強,不易受到各種光的干擾,因而儀器精度高、穩定性好。
2、大屏幕LCD中文顯示,中文菜單操作,簡便、直觀。
3、可保存標準曲線10條及500個測定值,斷電不丟失。
4、主機機殼采用模后ABS材料,防腐蝕性好。
5、采用高(gao)性能、低功耗16位(wei)單片機系統,性能佳。
![]() | 產品名稱:雜質濃度測試儀 產品型號: KDB-1A |
產品簡介
原理:根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系,可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。
適用范圍:它適合于測量橫截面尺寸是可測量的,而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒,例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。
用途:根據測量沿錠長雜質濃度的分布狀況決定產品的合格部分,通過雜質濃度的直接測量,決定晶體生長過程中的摻雜數量。
樣品可在常溫或低溫下測量。
顯示方式:儀器連接PC機,通過測試軟件計算,用對數坐標的方式來顯示雜質濃度(含次方數)沿錠長的分布曲線,可對曲線圖進行打印和保存。
測量范圍: 可測晶體電阻率:0.005-3000Ω·cm。
直流數字(zi)電壓表測量范(fan)圍(wei):0-199.99mV,靈敏度(du):10μA。
手持式高溫非接觸紅外測溫儀 型號:TM950 |
| 如果你對HI98703高精度濁度分析測定儀HI98703感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯系: |

聯系人:王汝玄
電話:
傳真:86-010-68467699
手機:18910534055
郵箱:1350547381@qq.com
網址:www.0838wh.com
地址:北京市通州區興貿三街18號院
























